Equipments

当研究室が保有する主要研究設備の一部をご紹介します。

透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscopy）

球面収差補正走査透過型電子顕微鏡（Cs-corrected STEM) 

(JEOL JEM-2100F(200kV) equipped with CEOS aberration corrector)


高分解能透過型分析電子顕微鏡（FE型）

(Topcon EM-002BF(200kV))


汎用透過型電子顕微鏡（c-TEM)

(JEOL JEM-2010HC(200kV))

走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscopy）

 方位像顕微鏡（走査型電子顕微鏡, SEM-OIM)

(JSM-5310)



さらに詳細な設備に関しましては、こちらをご覧下さい。